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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀的應(yīng)用領(lǐng)域廣...

“顆粒知識庫”上一篇文章中，我們講了干法測量中分散壓力的選擇與評估方法，那么激光粒度儀干法測試結(jié)果的準(zhǔn)確性除了受分散壓力的影響外，還有其他的影響因素，我們又要如何判斷結(jié)果是否準(zhǔn)確呢？讓我們接著上一期的話題繼續(xù)為大家答疑解惑。01丨干法測試的保證一般情況下，為確保干法測試結(jié)果的準(zhǔn)確，測試過程中需要滿足以下三個(gè)條件：取樣：保證均一性物質(zhì)參數(shù)設(shè)置正確：折射率和吸收率測試條件合適：保證良好的進(jìn)樣速度，選擇合適的分散壓力在滿足上述三個(gè)條件后，獲得良好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性，數(shù)據(jù)質(zhì)量即可確認(rèn)為可靠...

摘要在鋰離子電池正極材料的晶體結(jié)構(gòu)表征中，正極材料中的過渡金屬元素與常規(guī)銅靶X射線的相互作用易誘發(fā)強(qiáng)烈二次熒光效應(yīng)，導(dǎo)致衍射圖譜背景增高，信噪比不佳。是否可以通過更改光路配置，達(dá)到高靈敏度和最佳的數(shù)據(jù)質(zhì)量？本文通過實(shí)際案例為您介紹馬爾文帕納科X射線衍射儀測量正極材料時(shí)的最佳光路配置，幫助您在測試中獲取更好的數(shù)據(jù)。1背景介紹X射線衍射（XRD）是分析鋰離子電池正極材料的一種重要工具。正極材料，例如常用于電動車（EV）電池的磷酸鐵鋰（LFP）和三元氧化物（NMC），可能存在陽離子...

納米粒度電位儀是一種重要的分析儀器，用于測量納米級別顆粒的大小和電位變化的儀器。其基本原理是利用電泳和沉降原理，通過測量顆粒在電場中的移動速度來推算出顆粒的大小和電位。在電場作用下，顆粒會受到電場力的作用而發(fā)生移動，其移動速度與顆粒的大小、形狀和電荷量有關(guān)。納米粒度電位儀具有以下技術(shù)特點(diǎn)：1、高精度測量粒徑測量精度高：采用動態(tài)光散射（DLS）等先進(jìn)技術(shù)，能夠精確測量納米顆粒的粒度大小，可檢測到小至0.6nm的顆粒，對于大顆粒的測量上限也能達(dá)到10μm左右，測量精度通?？蛇_(dá)到&...

馬爾文帕納科晶圓分析儀是一種專門用于測量和分析晶圓特性的高精度儀器。其主要用于測量晶圓的多種參數(shù)，如層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性等。這些參數(shù)對于半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲行業(yè)至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈冎苯佑绊懙叫酒男阅芎涂煽啃?。晶圓分析儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)。該技術(shù)利用X射線激發(fā)晶圓表面的原子，使其發(fā)射出特征熒光光譜。通過分析這些熒光光譜，可以確定晶圓表面的元素組成和含量，進(jìn)而推導(dǎo)出晶圓的多種參數(shù)。馬爾文帕納科晶圓分析儀的性能特點(diǎn)：1、高分辨率成像先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)...