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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨(dú)t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀的應(yīng)用領(lǐng)域廣...

“顆粒知識(shí)庫(kù)”上一篇文章中，我們講了干法測(cè)量中分散壓力的選擇與評(píng)估方法，那么激光粒度儀干法測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性除了受分散壓力的影響外，還有其他的影響因素，我們又要如何判斷結(jié)果是否準(zhǔn)確呢？讓我們接著上一期的話題繼續(xù)為大家答疑解惑。01丨干法測(cè)試的保證一般情況下，為確保干法測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確，測(cè)試過程中需要滿足以下三個(gè)條件：取樣：保證均一性物質(zhì)參數(shù)設(shè)置正確：折射率和吸收率測(cè)試條件合適：保證良好的進(jìn)樣速度，選擇合適的分散壓力在滿足上述三個(gè)條件后，獲得良好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性，數(shù)據(jù)質(zhì)量即可確認(rèn)為可靠...

摘要在鋰離子電池正極材料的晶體結(jié)構(gòu)表征中，正極材料中的過渡金屬元素與常規(guī)銅靶X射線的相互作用易誘發(fā)強(qiáng)烈二次熒光效應(yīng)，導(dǎo)致衍射圖譜背景增高，信噪比不佳。是否可以通過更改光路配置，達(dá)到高靈敏度和最佳的數(shù)據(jù)質(zhì)量？本文通過實(shí)際案例為您介紹馬爾文帕納科X射線衍射儀測(cè)量正極材料時(shí)的最佳光路配置，幫助您在測(cè)試中獲取更好的數(shù)據(jù)。1背景介紹X射線衍射（XRD）是分析鋰離子電池正極材料的一種重要工具。正極材料，例如常用于電動(dòng)車（EV）電池的磷酸鐵鋰（LFP）和三元氧化物（NMC），可能存在陽(yáng)離子...

納米粒度電位儀是一種重要的分析儀器，用于測(cè)量納米級(jí)別顆粒的大小和電位變化的儀器。其基本原理是利用電泳和沉降原理，通過測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的移動(dòng)速度來推算出顆粒的大小和電位。在電場(chǎng)作用下，顆粒會(huì)受到電場(chǎng)力的作用而發(fā)生移動(dòng)，其移動(dòng)速度與顆粒的大小、形狀和電荷量有關(guān)。納米粒度電位儀具有以下技術(shù)特點(diǎn)：1、高精度測(cè)量粒徑測(cè)量精度高：采用動(dòng)態(tài)光散射（DLS）等先進(jìn)技術(shù)，能夠精確測(cè)量納米顆粒的粒度大小，可檢測(cè)到小至0.6nm的顆粒，對(duì)于大顆粒的測(cè)量上限也能達(dá)到10μm左右，測(cè)量精度通常可達(dá)到&...

馬爾文帕納科晶圓分析儀是一種專門用于測(cè)量和分析晶圓特性的高精度儀器。其主要用于測(cè)量晶圓的多種參數(shù)，如層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性等。這些參數(shù)對(duì)于半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)至關(guān)重要，因?yàn)樗鼈冎苯佑绊懙叫酒男阅芎涂煽啃?。晶圓分析儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)。該技術(shù)利用X射線激發(fā)晶圓表面的原子，使其發(fā)射出特征熒光光譜。通過分析這些熒光光譜，可以確定晶圓表面的元素組成和含量，進(jìn)而推導(dǎo)出晶圓的多種參數(shù)。馬爾文帕納科晶圓分析儀的性能特點(diǎn)：1、高分辨率成像先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)...