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在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過(guò)光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出次級(jí)X射線,即X射線熒光。當(dāng)這些高能射線與樣品中的原子相互作用時(shí),會(huì)將原子內(nèi)層的電子擊出,導(dǎo)致外層電子躍遷到內(nèi)層。當(dāng)外層電子返回基態(tài)時(shí),會(huì)釋放出特征X射線,這些特征X射線的能量或波長(zhǎng)與元素的種類(lèi)有關(guān)。通過(guò)檢測(cè)這些特征X射線,可以確定樣品中存在的元素種類(lèi)及其含量。X射線熒光光譜儀的應(yīng)用范圍十分廣泛,主要包括以下幾個(gè)方面:1、地質(zhì)與礦產(chǎn)領(lǐng)域地質(zhì)勘探:通過(guò)對(duì)巖石、土壤等樣品進(jìn)...
Mastersizer系列激光粒度儀濕法分散進(jìn)樣?關(guān)機(jī):Mastersizer激光粒度儀配套濕法進(jìn)樣器,在實(shí)驗(yàn)結(jié)束后需要繼續(xù)進(jìn)行充分清洗。若遇假期長(zhǎng)時(shí)間不用,建議在濕法進(jìn)樣器中倒入無(wú)水乙醇等清潔試劑攪拌清洗后排空,然后用干燥的高級(jí)擦鏡紙將鏡片內(nèi)側(cè)擦干,之后先關(guān)閉軟件退出系統(tǒng),然后關(guān)閉儀器即可。?開(kāi)機(jī):配置濕法進(jìn)樣器的Mastersizer激光粒度儀在開(kāi)機(jī)預(yù)熱后,建議在濕法進(jìn)樣器中倒入清潔的分散介質(zhì)進(jìn)行攪拌清潔數(shù)次后,之后初始化儀器觀察背景值正常后即可開(kāi)始使用。干法分散進(jìn)樣?關(guān)...
上一期推出的“XRF假期維護(hù)攻略”受到了XRF用戶的認(rèn)可和好評(píng)。XRD的用戶也表示此等攻略同樣需要!別急,XRD安渡假期的技巧已為您準(zhǔn)備好,本期就為您介紹XRD假期維護(hù)的注意事項(xiàng),還特別增加了假期返工后開(kāi)機(jī)的正確操作步驟,快來(lái)收藏吧!馬爾文帕納科X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于教學(xué)科研、企業(yè)研發(fā)的關(guān)鍵崗位,儀器的正常工作對(duì)于廣大科研工作者和工程師來(lái)說(shuō)都分外重要。即將到來(lái)的寒假和春節(jié),在您即將離開(kāi)實(shí)驗(yàn)室愉快度假前,請(qǐng)按照要求對(duì)儀器及外設(shè)設(shè)備進(jìn)行正確操作,千萬(wàn)不要因?yàn)樾∈д`,造成儀器無(wú)法正...
本文由馬爾文帕納科亞太應(yīng)用中心應(yīng)用專(zhuān)家陳辰供稿本文摘要2025年,我們將繼續(xù)推出XRD自動(dòng)數(shù)據(jù)處理系列的XRD軟件應(yīng)用技巧。繼前文介紹自動(dòng)化軟件APP(AutomaticProcessingProgram),以及演示其配合其他分析軟件實(shí)現(xiàn)石墨化度自動(dòng)分析和應(yīng)力分析。本期第四講,將為您介紹針對(duì)半導(dǎo)體單晶外延晶片APP與高分辨XRD數(shù)據(jù)軟件AMASS配合實(shí)現(xiàn)自動(dòng)分析。更多閱讀,請(qǐng)點(diǎn)擊文末系列文章鏈接。01丨簡(jiǎn)介AMASS是一款用于分析高分辨XRD(HRXRD)數(shù)據(jù)的軟件,主要適用...
粉末衍射儀,特別是粉末X射線衍射儀,是一種基于X射線衍射原理的重要分析儀器,在材料科學(xué)、化學(xué)、物理等多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著舉足輕重的作用。其工作原理是利用具有一定發(fā)散度的特征X光束照射多晶平板樣品。多晶平板樣品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所產(chǎn)生的衍射線將在適當(dāng)?shù)姆轿痪劢苟纬裳苌鋸?qiáng)峰。這些被聚焦的衍射線所對(duì)應(yīng)的同名晶面或等同晶面與光源和接收狹縫處在同一聚焦圓周上。在測(cè)角儀掃描過(guò)程中,聚焦圓的半徑會(huì)不斷改變,但在樣品一定深度范圍內(nèi)總是存在與聚焦圓吻合的弧面。這些滿足...