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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，不同的晶體物質(zhì)具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)信息。X射線衍射儀在安裝前期的...

激光粒度分布儀是一種用于測量和分析顆粒大小分布的精密儀器，主要利用激光技術(shù)進(jìn)行粒度分析。其核心原理是激光散射技術(shù)。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品時，顆粒會對激光產(chǎn)生散射現(xiàn)象。散射光的強(qiáng)度、角度和偏振狀態(tài)與顆粒的大小、形狀、折射率等參數(shù)密切相關(guān)。根據(jù)米氏散射理論（MieTheory），當(dāng)顆粒的直徑與激光波長相近或更大時，散射光的強(qiáng)度與顆粒的直徑呈一定的函數(shù)關(guān)系。因此，通過測量散射光的分布，可以計算出顆粒的粒度分布。激光粒度分布儀的安裝是一個精細(xì)且規(guī)范的過程，需要確保儀器的準(zhǔn)確性、穩(wěn)定性...

本文摘要納米氣泡的粒度表征，受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測試，信號弱，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實現(xiàn)實時、可視化的納米氣泡顆粒表征，可以很好的應(yīng)對納米氣泡的特殊性，取得高分辨的粒度分布結(jié)果，并可以快速捕捉在不同條件下粒徑和濃度的變化，以研究納米氣泡的長期穩(wěn)定性。01丨背景介紹納米氣泡因其物理和化學(xué)特性，而廣泛應(yīng)用于水體修復(fù)、工業(yè)清洗、水產(chǎn)養(yǎng)殖、藥物傳遞、污水處理等領(lǐng)域。盡管納米氣泡的制備方法已相對成熟，但...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種先進(jìn)的儀器，用于對液體懸浮液中的納米顆粒進(jìn)行粒度分布和濃度分析。是利用光散射和布朗運(yùn)動的原理，對懸浮液中的納米顆粒進(jìn)行追蹤和分析。當(dāng)激光束穿過樣品溶液時，顆粒會散射光線，通過高靈敏度的光學(xué)顯微鏡收集這些散射光信號，并觀察粒子的運(yùn)動軌跡。基于布朗運(yùn)動理論，利用Stokes-Einstein方程計算顆粒的流體力學(xué)半徑，從而得到粒度分布信息。納米顆粒跟蹤分析儀常見的問題及對應(yīng)的解決方法：一、樣品制備相關(guān)問題①問題：樣品濃度過高或過低。表現(xiàn)：如果樣品濃度過高，...

納米粒度電位儀是一種在科研和工業(yè)領(lǐng)域廣泛使用的精密物理測量工具，能夠準(zhǔn)確測量納米級別的顆粒大小和電位變化。其基于電學(xué)和納米技術(shù)的結(jié)合，通過電泳和沉降原理來測量顆粒的大小和電位。在電場作用下，顆粒會受到電場力的作用而發(fā)生移動，其移動速度與顆粒的大小、形狀和電荷量有關(guān)。通過測量顆粒在電場中的移動速度，可以推算出顆粒的大小和電位。具體來說，激光散射技術(shù)用于測量顆粒的尺寸分布，而電泳技術(shù)則用于測量顆粒的表面電荷性質(zhì)，即Zeta電位。納米粒度電位儀其結(jié)構(gòu)主要包括以下幾個部分：1、光學(xué)系...