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x射線粉末衍射儀廠家分析晶體對X射線的衍射效應(yīng)是取決于它的晶體結(jié)構(gòu)，不同種類的晶體將給出不同的衍射花樣。假如一個(gè)樣品內(nèi)包含了幾種不同的物相，則各個(gè)物相仍然保持各自特征的衍射花樣不變。而整個(gè)樣品的衍射花樣則相當(dāng)于它們的迭合。除非兩物相衍射線剛好重迭在一起，二者一般之間不會產(chǎn)生干擾。這就為鑒別這些混合物樣品中和各個(gè)物相提供了可能。關(guān)鍵是如何將這幾套衍射線分開。這也是多相分析的難點(diǎn)所在。多相混合物的衍射圖譜鑒定較困難，根據(jù)混合物相的具體情況分別對待，將不同物相的衍射線分開，以便較快...

單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀從儀器的硬件與軟件在許多細(xì)節(jié)都進(jìn)行了改進(jìn)，使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高，增加了微區(qū)分布成像分析功能，從而達(dá)到更高水平的程度。儀器利用高次譜線進(jìn)行準(zhǔn)確的定性/定量分析，高次譜線的判定更加準(zhǔn)確，提高了定性定量分析的準(zhǔn)確度/可靠性。利用單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀測定高分子薄膜的膜厚與無機(jī)成分分析的背景基本參數(shù)法；使用單道掃描型波長色散X射線熒光光譜儀進(jìn)行的膜厚測定、薄膜測定實(shí)例。對應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品...

xrf分析儀曲線漂移的原因分析：1.要把漂移的原因搞清楚，是xrf分析儀（參數(shù)）原因還是環(huán)境（氣、電、溫度等）；熔融法做類標(biāo)，風(fēng)險(xiǎn)稍大，熔融法不象直讀光譜，標(biāo)樣穩(wěn)定，且基體大多情況不一致。2.雖說對于熔融法,類型標(biāo)準(zhǔn)化沒有什么理論根據(jù),但有時(shí)確實(shí)起到很好的效果,并不是不可用,但要確認(rèn)儀器本身正常且穩(wěn)定。對于校正xrf分析儀漂移的試樣,要看強(qiáng)度值有多高,如果單點(diǎn)校正的強(qiáng)度值過低,可能會出現(xiàn)較大的問題,單點(diǎn)漂移校正的強(qiáng)度接近曲線的上端強(qiáng)度,相對誤差會小一些,用兩點(diǎn)校正儀器漂移。曲...

工業(yè)X射線衍射儀適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。X射線衍射術(shù)是一種應(yīng)用于材料分析的高科技無損檢測方法，可以采用這種方法進(jìn)行分析研究的材料范圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽能電池和半導(dǎo)體等。X射線衍射方法的應(yīng)用遍及工業(yè)和科研院所，現(xiàn)已成為一種*的材料研究表征和質(zhì)量控制手段。具體應(yīng)用范圍包括定性和定量相分析、晶體分析、結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析、受控樣品環(huán)境、微區(qū)衍射、納米材料、實(shí)驗(yàn)和過程的自動控制以及高處理量多形...

過去對環(huán)境的評估只能依賴于在實(shí)驗(yàn)室對從現(xiàn)場采集并運(yùn)送到實(shí)驗(yàn)室的樣件所做的分析，現(xiàn)如今xrf分析儀的出現(xiàn)，能夠在現(xiàn)場直接對環(huán)境進(jìn)行評估，經(jīng)濟(jì)及時(shí)有效。xrf分析儀對于環(huán)境檢測有非比尋常的意義，主要包括以下幾個(gè)方面：1、社區(qū)與居住區(qū)域的發(fā)展xrf分析儀可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量，在整修學(xué)校、社區(qū)中心、住宅、游樂場及運(yùn)動場或者是垃圾填埋場、工業(yè)場址、果園、飼養(yǎng)場等地方，它都是一件*的工具。2、城市周邊地區(qū)的農(nóng)業(yè)及農(nóng)藝學(xué)隨著世界人口的增長，食物來源的安全性也變得越...